品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,制药,综合 |
FISCHER XDAL测厚仪
配备了半导体探测器,由于有更好的信噪比,能更精确地进行元素分析和薄镀层测量
使用微聚焦管可以测量较小的测量点,但因为其信号量较低,不适合测量十分细小的结构
底部C型开槽的大容量测量舱
有弹出功能的快速、可编程XY平台
镀层和合金的材料分析(还适用于薄镀层和低含量成分)
来料检验,生产监控
研究和开发
电子工业
接插件和触点
黄金、珠宝和钟表工业
可以测量数纳米薄的镀层,如印刷线路板和电子元器件上的Au和Pd镀层
痕量元素分析
在有“高可靠性"要求的应用中确定铅(Pb)含量
硬质镀层分析