菲希尔XDL220 X射线测厚仪信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210

技术参数表如下：

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 X射线荧光光谱仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL210 FISCHERSCOPE X-RAY XDL

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪简介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。