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FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

简要描述:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN252,高性能X射线荧光测量仪,配有硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

更新时间:2024-08-06

访问量:192

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,生物产业,制药,综合

FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN252特点

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN252

高性能机型,具有强大的综合测量能力

配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片

配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),还适用于更复杂的多元素分析

由下至上的测量方向,可以非常简便地实现样品定位

典型应用领域

对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量

对有害物质进行痕量分析,例如,玩具中的铅含量

在珠宝和手表业,以及在金属精炼领域,对合金进行高精度的分析

用于高校研究和工业研发领域

FISCHERSCOPE® XDL®

X射线荧光测试仪,可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、防腐蚀镀层和大规模生产零部件


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