| 品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,制药,综合 |
菲希尔X射线测厚仪Fischer
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY特性：
■X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务
■由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
■通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试
■使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY应用：镀层厚度测量
■大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
■电路板上较薄的导电层和/或隔离层
■复杂几何形状产品上的镀层
■铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
■氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量
材料分析
■电镀槽液分析
■电子和半导体行业中的功能性镀层分析
苏公网安备32021402002648
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