菲希尔X射线测厚仪Fischer X-RAY

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有：

•  分析小于 的超薄镀层

•  测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

•  测定复杂的多镀层系统

•  全自动测量，如在质量控制领域

•  分析焊锡中铅含量

•  配备可选的 SDD 探测器：可测量镍磷中的磷含量

菲希尔X射线测厚仪参数：

1、通用规格

设计用途：能量色散X射线荧光材料分析及镀层测厚仪 用来测量薄镀层和微小结构，分析合金和微量组分。

形式设计：台式仪器，测量门向上开启可编程的工作台和电调的轴马达驱动的可更换的准直器和基本滤片

视频摄像头和激光点（类）定位测量点。

测量方向：从上到下。

2、X 射线源

X射线管：带铍窗口的微聚焦管

高压、三档：10、30、50KV

孔径（准直器） ：4个可切换准直器：圆形；长方形、可按要求定制其它规格。

基本滤片：3 种可切换的基本滤片（标准配置：镍，铝，无）

测量点：取决于测量距离及准直器大小；在视频窗口中显示实际的测量点大小。*小的测量点大小约为0.15mm直径。

测量距离：0-80mm、在不同距离使用砖利 简化方法的距离补偿测量。如果是特定的应用程序或更高的校准精度要求，校正是必要的。