COULOSCOPE CMS2 STEP代理菲希尔

菲希尔库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP测量仪

库仑法的成本效益高，可准确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了很大的灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度，特别是在电镀镀层的质量控制中，以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。

STEP测试:库仑法测量镀层厚度和多层镍的电化学电位测量

如果你想在使用库仑法测量镀层厚度的同时测量电化学电势，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的选择。STEP测试方法可以同时测量多层镍镀层的电位差和镀层厚度，非常适合测定这些镀层的腐蚀行为。

菲希尔库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP特性

1. 高精度测量多层金属镀层的厚度(库仑法)

2. 根据DIN EN ISO 2177进行测量

3. 通过彩色显示屏和图形支持的用户指南直观地操作

4. 可轻松选择电解速度(0.1-50微米/分钟)和电解面积(0.6-3.2mm)

5. 针对不同镀层系统(如铁上镀锌或黄铜上镀镍)预先设定了近100种测量应用

6. 测量单元上电压曲线的图形显示

7. 图形和统计评估

8. 带支撑架的部分自动化测量，适用于各种样品尺寸

9. 全面的配件组合，以适应特定的要求