泰勒霍普森粗糙度仪代理

泰勒霍普森Surtronic S-100系列新型粗糙度仪的粗糙度测量分析参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007等

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin

更多测量参数可选配我们的TalyProfile粗糙度分析软件。

全新泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S-100系列：

由泰勒霍普森设计并制造的便携式粗糙度测量仪，坚固耐用、用途广泛并且具有外部连通性，能够广泛支持各种表面测量应用。 为了便于使用，这款全新的Surtronic S-100系列仪器拥有彩色触摸宽屏操作设计和高度直观的专有软件。适用于车间和检测间的使用。