品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,制药,综合 |
菲希尔代理、X射线测厚仪XDL210
菲希尔代理特性:
X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合,可完成各种测量任务
由于测量距离可以调节(最大可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件
通过可编程 XY 工作台与 Z 轴(可选)实现自动化的批量测试
使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器,非常适用于测量超薄镀层(XDAL 设备)
应用:
镀层厚度测量
大型电路板与柔性电路板上的镀层测量
电路板上较薄的导电层和/或隔离层
复杂几何形状产品上的镀层
铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品
氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量