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FISCHERSCOPE XDL210 X射线

FISCHERSCOPE XDL210 X射线

简要描述:
FISCHERSCOPE XDL210 X射线,FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

更新时间:2024-08-26

访问量:361

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,综合

FISCHERSCOPE XDL210 X射线

菲希尔X射线测厚仪Fischer代理比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。zui多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。

XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪典型的应用领域有:

测量大规模生产的电镀部件

测量薄镀层,例如装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量,如测量印刷线路板

分析电镀溶液

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。


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