Fischer XDL240菲希尔代理

设计用途 能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液

分析。

元素范围 从元素 氯(17) 到 铀(92)

配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时，*多可同时测定 24 种元素

设计理念 台式仪器，测量门向上开启

测量方向 由上往下

X  射线源

X 射线管  带铍窗口的钨管

高压 三档： 30 kV，40 kV，50 kV

孔径（准直器） Ø 0.3 mm 可选：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形 0.3 mm x 0.05 mm

测量点尺寸 取决于测量距离及使用的准直器大小，

实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

菲希尔X射线测厚仪测量点大小约 Ø 0.2mm

X  射线探测

X 射线接收器

测量距离

比例接收器

0 ~ 80 mm，使用砖利保护的 DCM 测量距离补偿法

样品定位

视频系统

高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置

手动聚焦，对被测位置进行监控

十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）

可调节亮度的LED照明，激光光点用于***定位样品

放大倍数 40x – 160x

电气参数

电源要求 220 V ，50 Hz

功率 *大 120 W （不包括计算机）

保护等级 IP40

尺寸规格

外部尺寸 宽×深×高[mm]：570×760×650

内部测量室尺寸 宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品*大高度"部分的说明）

重量 120 kg

环境要求

使用时温度 10°C – 40°C