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测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

简要描述:
测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL220,FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210又名X 射线荧光光谱仪,采用手动或自动方式,测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

更新时间:2024-08-05

访问量:219

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL220

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。

菲希尔X射线测厚仪XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

菲希尔X射线测厚仪XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的应用领域有:

测量大规模生产的电镀部件

测量薄镀层,例如装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量,如测量印刷线路板

分析电镀溶液


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