菲希尔XDL210代理Fischer X射线测厚仪

XDL210/220参数

●设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF)， 用于测定超薄镀层和溶液分析。

●元素范围：从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时，多可同时测定24种元素

●设计理念：台式仪器，测量门向上开启

●测量方向：由上往下

X射线源

●X射：带铍窗口的钨管

●高压： 三档： 30 kV，40 kV，50 kV

●孔径（准直器）： Ø 0.3 mm 可选：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；长方形0.3 mm x 0.05 mm

●测量点尺寸：取决于测量距离及使用的准直器大小， 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 的测量点大小约Ø0.2mm

X射线探测

●X射线接收器：测量距离

●比例接收器：0 ~ 80 mm，使用保护的DCM测量距离补偿法

●视频系统：高分辨率CCD彩色摄像头，沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦，对被测位置进行监控十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸） 可调节亮度的LED照明，激光光点用于定位样品

●放大倍数：40x – 160x

电气参数

●电源要求：220 V ，50 Hz

●功率:120 W （不包括计算机）

●保护等级:IP40

尺寸规格

●外部尺寸：宽×深×高[mm]：570×760×650

●内部测量室尺寸：宽×深×高[mm]：460×495x（参考“样品**高度"部分的说明）

●重量：107 kg