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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉仪

简要描述:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉仪,X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

更新时间:2024-07-15

访问量:236

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌TeledyneAPI/美国价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉仪

菲希尔X射线测厚仪无锡2138cn太阳集团供应FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款应用广泛的能量色散型X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL 230 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有:

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄镀层,例如:装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 测量印刷线路板

• 分析电镀溶液

菲希尔X射线测厚仪无锡2138cn太阳集团供应XDL230 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。


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