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测厚仪Fischerscope X-RAY XDL210

测厚仪Fischerscope X-RAY XDL210

简要描述:
测厚仪Fischerscope X-RAY XDL210,FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。它是由大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

更新时间:2024-05-27

访问量:301

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

测厚仪Fischerscope X-RAY XDL210

FISCHERSCOPE X-RAY XDL无锡2138cn太阳集团供应采用了基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯(17)到铀(92)。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

  • 测量大规模生产的电镀部件

  • 测量超薄杜策,例如:装饰铬

  • 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

  • 全自动测量,如测量印刷线路板

  • 分析电镀溶液

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希尔X射线测厚仪无锡2138cn太阳集团供应设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途,有不同的版本。
XDL 210 型的工作台为固定式工作台,固定位置的 Z 轴系统。

XDL 220 型的工作台为固定式工作台,马达驱动的 Z 轴系统。

XDL 230 型配有可手动操控的 X/Y 工作台,马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDL 240 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台,当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。


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