SURTRONIC DUO泰勒粗糙度仪

SURTRONIC DUO泰勒霍普森无锡2138cn太阳集团供应粗糙度仪仪器特点：

快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

携带方便泰勒霍普森粗糙度仪无锡2138cn太阳集团供应SURTRONIC DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪无锡2138cn太阳集团供应经外接口操作者可在距离被测工件1m处操作测量。

校准方便SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪无锡2138cn太阳集团具有自身校准标准，可预设标准值，通过LCD显示出来。

测针保护不用时，设“park"位置可全面保护测针。

人体工程学设计

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪无锡2138cn太阳集团技术指标：

Ra(算术平均偏差，以前称为CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采样长度内轮廓线以下的大高度)
Rp(采样长度内轮廓线以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采样长度内的大峰到谷)
偏度-关于平均线的轮廓对称度的测量
Rq(轮廓线与平均线的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面轮廓锐度的测量)