XDAL237菲希尔X射线测厚仪

区别在于使用的探测器类型不同。在德国菲希尔XDAL X射线荧光测厚仪使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器，从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而，这台仪器适合于一般材料分析，痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

无锡2138cn太阳集团供应菲希尔X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而，由于相对较小的探测器有效接收面积（相比较比例计数器探测器来说），信号强度低，故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似，准直器和基本滤片是可自动切换，以便为不同测量程式创造的激励条件。

德国菲希尔FISCHERSCOPE XDAL X射线荧光测厚仪的测量空间宽大，菲希尔X射线测厚仪无锡2138cn太阳集团供应可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置zui高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDAL237测量系统配有快速可编程的XY平台，因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面。此外，在如引线框架等样品上进行多点测量，或是在多个不同样品上进行批量测量，都可以通过快速编程自动化地完成。

由于XY平台在舱门打开时，能自动弹出到加载样品位置，故而样品放置定位变得十分简便。激光点标示处就是样品的测量位置。