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MINITEST3100 EPK测厚仪

MINITEST3100 EPK测厚仪

简要描述:
MINITEST3100 EPK测厚仪,用于测量以下覆层(覆层包括涂层,镀层等):
l钢铁基体上的非磁性覆层
l有色金属上的绝缘覆层
l绝缘基体上的有色金属覆层

更新时间:2024-03-11

访问量:374

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌ElektroPhysik/德国EPK价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,综合

MINITEST3100 EPK测厚仪

EPK测厚仪MINITEST3100技术参数:

技术特征

1100

2100

3100

4100

MINITEST存储的数据量





应用行数(根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,可设宽容度极限值)


1

10

98

可用各自的日期时间标识特性的组数


1

最多500

最多500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能





读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar




读数的八种统计值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk



组统计值六种x,x,n,max,min,kvar




组统计值八种x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk



存储显示每一应用行下的所有组内数据




分组打印以上显示和存储得数据、统计值



显示并打印测量值、打印的日期和时间


MINITEST 校准方法





透过涂层进行校准(CTC)


在粗糙表面上作平均零校准

利用PC机进行基础校准

补偿一个常数(OFFSET)



外设的读值传输存储功能


保护并锁订校准值

更换电池时存储读值

设置极限值



公英制转换

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最小值



连续测量模式中测量稳定后显示读值

浮点或定点方式数据传送

无需连接测头即可读数值


组内单值延迟显示


连续测量模式中显示最小值


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