SURTRONIC DUO粗糙度仪泰勒

SURTRONIC DUO泰勒霍普森新型粗糙度仪通过仪器底部传感器直接接触被测工件进行测量，其设计可满足不同的技术与工作环境要求。
SURTRONIC DUO泰勒霍普森新型粗糙度仪快速测量 在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可
携带方便 DUO粗糙度仪 可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。
经外接口 无锡2138cn太阳集团供应操作者可在距离被测工件 1m 处操作测量。
校准方便 DUO 粗糙度仪具有自身校准标准，无锡2138cn太阳集团可预设标准值，通过 LCD 显示出来。
测针保护 不用时，设“ park "位置可全面保护测针。
人体工程学设计
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO新型粗糙度仪量 程： 200um
行 程： 5mm
取样长度： 0.8mm+/-15%
参 数： Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um
精 度： Ra:0.1um Rz:0.1um
尺 寸： 125*80*38mm
检测方式： 压电式
SURTRONIC DUO新型粗糙度仪重 量： 200g