Fischer|X射线测厚仪

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope X-RAY特性：

• X 射线荧光仪器可配备多种硬件组合，可完成各种测量任务

• Fischerscope X-ray菲希尔X射线测厚仪由于测量距离可以调节（大可达 80 mm），适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件

• Fischerscope X-ray菲希尔X射线测厚仪通过可编程 XY 工作台与 Z 轴（可选）实现自动化的批量测试

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探测器，非常适用于测量超薄镀层（XDAL 设备）

菲希尔X射线测厚仪Fischer代理应用：镀层厚度测量

• 大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

• 电路板上较薄的导电层和/或隔离层

• 复杂几何形状产品上的镀层

• 铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

• 氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

• 材料分析

• 电镀槽液分析

• 电子和半导体行业中的功能性镀层分析

菲希尔x-ray射线镀层测厚仪设计理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。Fischerscope X-RAY XDL210：平面样品平台，固定的Z 轴系统，笃挚仪器正规代理。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。