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MINITEST2100测厚仪

MINITEST2100测厚仪

简要描述:
MINITEST2100测厚仪,所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

更新时间:2024-01-08

访问量:544

厂商性质:经销商

生产地址:

品牌ElektroPhysik/德国EPK价格区间面议
产地类别进口应用领域环保,制药,综合

MINITEST2100测厚仪

MiniTest2100涂层测厚仪功能

型号

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,并可设宽容度极限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

-

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

-

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

-

-

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

-

-

-

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

-

-

显示并打印测量值、打印的日期和时间

-

其他功能
透过涂层进行校准(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校准

利用计算机进行基础校准

补偿一个常数(Offset)

-

-

外设的读值传输存储功能

-

保护并锁定校准设置

更换电池是存储数值

设置极限值

-

-

公英制转换

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值

-

-

连续测量模式中测量稳定后显示读数

-

-

浮点和定点方式数据传送

组内单值延迟显示

-

连续测量模式中显示最小值


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