泰勒霍普森轮廓仪TAYLOR

泰勒霍普森轮廓仪CCI MP-HS

无论测量的是何种元件，无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI MP-HS非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 一百万高速相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

CCI MP-HS极大地扩展了分析能力，同时又不至于让分析程序变得更复杂。 您可以测量各种各样的元件和表面，不需要进行复杂的测量模式切换，也不会给中间透镜的校准增加额外的负担。 通过标准化的方法、程序和报告，CCI MP-HS可轻松地整合到您的质量管理系统中。

1048 x 1048像素阵列，视场广，高分辨率

高级X、Y、Z拼接，扩展量程

RMS重复精度<0.2 埃，阶跃高度重复精度<0.1%

整合抗振，优化抗噪性能

多语言版本的Windows，64位软件

泰勒霍普森轮廓仪CCI MP

泰勒霍普森轮廓仪CCI MP是一种高级的测量干涉仪（非接触式3D轮廓仪）。 它采用新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。

CCI MP对于很多需要进行高精度3D轮廓分析的应用非常有用。 转台上可以同步装配各种各样的标的物，因而可测量多种类型的表面。 全自动的工作台和自动测量程序进一步增强了测量的灵活性。

CCI MP非接触式3D轮廓仪的一个关键优势就是功能多、用途广。 反射率为0.3%至100%的抛光表面、粗糙表面、曲面、平面或台阶面，都能使用一种算法进行测量，不需要为不同的表面改变模式，也不用担心会选择错误的模式。 可测量的材料类型包括： 玻璃、液体墨水、光刻胶、金属、聚合物和糊剂。

1048 x 1048像素阵列，视场广，高分辨率

经过改良的新型X、Y、Z拼接，量程多达100毫米

RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%

全量程埃级分辨率

多语言版本的Windows 7，64位软件