| 品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,制药,综合 |
Fischerscope X-ray菲希尔测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD全能选手
XDV®-SDD 是一款真正的全能型仪器，特别适用于测量<0.05µm的极薄镀层和PPM级范围内的材料分析。配备了全新的DPP+和功能强大的硅漂移探测器（SDD），这台多功能仪器可以提供出色的测量结果。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ
XDV®-μ是专为微小结构样品的精确镀层厚度测量和材料分析而开发。多毛细管光学器件和 DPP+ 的相互配合使得它能够在微米级大小的测量点上也能得到优秀的信号强度，从而进行精准且高重复性的测量。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD
XDV®-µ LD是业界优质的XRF仪器，适用于连接器和电子行业的镀层厚度测量和材料分析，特别是对装配完成的PCB以及形状复杂的连接器进行测量。在拥有12mm的测量距离时，仍可以实现最小的测量点，并具有最高的稳定性和信号强度。体验 DPP+ 与多毛细管光学系统的结合带来的性能提升。
苏公网安备32021402002648
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