菲希尔X射线代理

菲希尔X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，多毛细孔X 射线光学系统设计，可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于无损分析和测量极微小部件上镀层的厚度，即使是复杂的镀层结构，也同样应付自如。

菲希尔X射线测厚仪为了使每次测量都能在条件下进行，XDV-μ 配备了各种可电动切换的基本滤片。*的硅漂移接收器能够达到很高的分析精度及探测灵敏度。由于采用了开创性的多毛细管 X 射线光学系统设计，本款仪器能在极其微小的测量面积上产生非常高的激发强度。

菲希尔X射线测厚仪出色的准确性及长期的稳定性是 FISCHER X 射线仪器的共有特点，因此也大大减少了重新校准仪器的需要，为您节省时间和精力。

菲希尔X射线测厚仪由于采用了 FISCHER 的基本参数法，无论是镀层系统还是固体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。

菲希尔X射线测厚仪仪器可以选配一个大面积的工作台，用以配合对大型印制电路板进行测量。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 是一款界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台和马达驱动的 Z 轴升降台。侧面开槽的设计，可测量面积更大的工件，如印制电路板等。当外保护面罩开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。

通过激光点，可以快速对准需要测量的位置。仪器内置高分辨率彩色摄像头，简化了对测量点进行精确对位的过程。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM®软件在电脑上完成。