| 品牌 | Helmut Fischer/德国菲希尔 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 环保,生物产业,石油,制药,综合 |
贵金属镀层厚度测量
FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款应用广泛的能量色散型X 射线荧光光谱仪。它是从大众认可的 FISCHERSCOPE X-RAYXDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了 Fischer 基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。可测量的元素范围从氯 (17)到铀(92)
XDL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器
XDL系列仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控
Fischer X射线测厚仪典型的应用领域有:
测量大规模生产的电镀部件
测量薄镀层，例如装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
贵金属镀层厚度测量
苏公网安备32021402002648
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