菲希尔X射线测厚仪Fischer代理

菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230设计理念：

1，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的 Z 轴系统。

2，高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精-确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。

3，测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。

4，带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精-确调整。

5，所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM软件在电脑上完成。

6，XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受*保护的仪器，型式许可*符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV"法规的规定。

菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL 230基本应用：

1，镀层厚度测量

大型电路板与柔性电路板上的镀层测量

电路板上较薄的导电层和/或隔离层

复杂几何形状产品上的镀层

铬镀层，如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

2，材料分析

电镀槽液分析

电子和半导体行业中的功能性镀层分析

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