泰勒霍普森Surtronic S128

泰勒霍普森Surtronic S128

泰勒霍普森粗糙度仪技术规格：

泰勒霍普森粗糙度仪测量能力S-116S-128

泰勒霍普森粗糙度仪传感器量程200 µm / 100 µm / 10 µm400 µm / 100 µm / 10 µm

分辨率100 nm / 20 nm / 10 nm50 nm / 10 nm / 5 nm

低噪音 (Ra)250 nm / 150 nm / 100 nm150 nm / 100 nm / 50 nm

重复性 (Ra)1 % 值 + 噪 音0.5 % 值 + 噪 音

传感器类型电感

测量力150-300 mg

测头针尖半径5 µm (200 µin)默认/2 µm (80 µin)或10 µm (400 µin) 可选

测量类型导块滑动

泰勒霍普森粗糙度仪校正过程自动软件校正程序

标准能够根据ISO 4287粗糙度标准校正

泰勒霍普森粗糙度仪分析滤波器取样长度0.25 mm/0.8 mm/2.5 mm

滤波器类型2CR/高斯

评价长度0.25 mm-17.5 mm(0.01 in-0.70 in)0.25 mm-25.0 mm(0.01 in-1.00 in)

X轴zui大行程17.5 mm25.5 mm

泰勒霍普森粗糙度仪速度测量速度1 mm/秒  (0.04 in/秒)

返回速度1.5 mm/秒  (0.06 in/秒)

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