MiniTest 735涂层测厚仪产品信息

德国EPK涂层测厚仪

适用于MiniTest 735涂层测厚仪的SIDP®探头：

SIDSP®是涂层厚度传感器技术。借助这项新技术，为创新的涂层厚度丈量树立了另一个新的基准。 SIDSP®代表传感器集成的数字信号处置–一种在丈量的时间和点将信号在传感器内部处置成数字方式的技术。 SIDSP®传感器是根据全新重消费技术制造的。与传统技术不同，SIDSP®传感器为传感器内部的传感器头创建和控制鼓舞信号。返回信号直接中止数字转换并以32位精度中止处置，以提供完好的涂层厚度值。关于这种技术，运用了现代电信技术（网络）中已知的高度复杂的数字信号处置方法，例如数字滤波器，基带转换，平均，随机分析等。这运用户可以完成信号质量和迄今为止，精度是模拟信号处置所*的。厚度值经过传感器电缆数字传输到显现单元。在涂层厚度丈量方面树立了新的标准，与常用的模拟传感器相比，该技术具有决议性的优势和改进。