泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116参数介绍

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116产品简介

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116测试参数：

Surtronic S116三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm

Surtronic S116二个滤波器：2CR、Gaussian

Surtronic S116评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

大行程：17.5mm

测试速度：

测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)

测试参数：

执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

测试单位：um/uin