泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO技术参数

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO技术参数

SURTRONIC DUO 粗糙度仪技术指标：

量    程：200um

行    程：5mm

取样长度：0.8mm   +/-15%

参    数：Ra：0.01um-40um 

Rz：0.1um-199um Rp、Rt、Rv

显    示Ra:0.01um

精    度：Rz:0.1um

检测方式：压电式

尺    寸：125*80*38mm

重    量：200g

订货号：112-3115  

SURTRONIC DUO粗糙度仪  Ra Rz Rv Rp Rt

112-3115-10EX（防爆型） Ra Rz Rv Rp Rt

订货号：112-2916-03   Ra  Rz