Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度仪介绍

 Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度仪介绍

泰勒霍普森粗糙度仪技术指标：
测量范围：200 um 100 um 10 um
分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm
底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm
重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪
传感器原：电感
测量力：150-300mg
测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
测试方式：滑动扫描
泰勒霍普森粗糙度仪校准：
自动软件校准    标准：ISO4287
泰勒霍普森粗糙度仪测试参数：
三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
二个滤波器：2CR、Gaussian
评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
大行程：17.5mm
测试速度：
测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
泰勒霍普森粗糙度仪测试参数：
泰勒霍普森粗糙度测量仪执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 ：R3z (Daimler Benz)
泰勒霍普森粗糙度测量仪测试单位：um/uin